Стекло кварцевое прозрачное. Метод испытания на устойчивость к кристаллизации
На нашем сайте можно бесплатно скачать Руководящий документ ГОСТ 22290-76 в удобном формате. Узнать актуальный статус документа «Стекло кварцевое прозрачное. Метод испытания на устойчивость к кристаллизации» на 2016 год.
Скрыть дополнительную информацию
Страница 1
Страница 2
Страница 3
Страница 4
Страница 5
Страница 6
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
СТЕКЛО КВАРЦЕВОЕ ПРОЗРАЧНОЕ
МЕТОД ИСПЫТАНИЯ НА УСТОЙЧИВОСТЬ К КРИСТАЛЛИЗАЦИИ
ГОСТ 22290-76 Издание официальное
•uo* t ®H»tl
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ Москва
УДК M4.192.00l.4 : 006.354 Групп. И19
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
|
СТЕКЛО КВАРЦЕВОЕ ПРОЗРАЧНОЕ испытания на устойчивость к кристаллизации Vitreous s«lu:i iranwarent «lass. Crysta!(iZ3tion stability lest method |
ГОСТ 22290—761 |
ОКСТУ 5932
Постамовпеииам Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР от 30 декабря 1076 г. Hf 294S срок действия установлен
с 01.01.78
Проверен а 19(2 г. Пост. Госстандарта от 2S.09.86 № 2816
срок дейстамя продпеи до 01.01.92
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
Настоящий стандарт распространяется ни кварцевое прозрачное стекло к изделия из него и устанавливает метод испытании на устойчивость их к различным видам кристаллизации поверхности: точкам, рискам, пятнам или сплошным слоем.
Сущность метода заключается в выдерживании образцов при заданных (не менее 1000ЭС) температуре и времени н обнаружении на поверхности стекла следов кристаллизации или измерении толщины слоя кристаллизации.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
1. МЕТОД ОТБОРА ОБРАЗЦОВ
1.1. Количество образцов для испытания устанавливают в нормативно-технической документации на кварцевое стекло или изделия из него.
1.2. По форме и размерам образцы должны соответствовать указанным в таблице.
1
Переи здание (август 1988 г.) с Изменениями № I. 2. итверуеденными в мае 1982 г.. сентябре 1986 г. (НУС 8-82. 12—86).
© Издательство стандартов, 1989
С. 2 ГОСТ 22290-74
|
Испытуемое щдслис |
Форм» и рмчер оСра>=.а |
|
|
Кварцевое стекло В JO BOX и изделия из отекла Трубы и стержни |
пидс ааго- Kiiaimcncro |
Заготовки, изделии или куски от иих любой геометрической формы размерами не менее 30X30 ,мм (или массой Ik* мсиес 2 г) Отрезки труб длиной от 40 до 50 мм. Трубы диаметром более 40 мм допускается разрезать по образующей цилиндра на сектора с хордой 30—-50 мм испытывать не мснсе четырех образцов, расположенных в отрезке трубы со взаимно перпендикулярных направлениях |
(Измененная редакция, Изм. № 1).
1.3. Внешний вид испытуемых образцов стекла и изделии из пего должен соответствовать требованиям, установленным норма* тивно-технической документацией на кварцевое стекло и изделия из него. На торцах труб и стержней испытуемых образцов не допускается выход открытых капилляров.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
2. АППАРАТУРА И РЕАКТИВЫ
2 1. Электропечь сопротивления лабораторная типа СНОЛ-1,6.2,5.1,4/15 по ГОСТ 13474-79 или другая, обеспечивающая заданную температуру, с размерами рабочего пространства, соответствующими размерам сосуда для образцов.
Термометр термоэлектрический типа ТПП по ГОСТ 6616-74 или другого типа, обеспечивающий заданные условия испытания.
Потенциометр КСП-4 iio ГОСТ 7164-78 или другой, обеспечивающий регулирование- температуры с заданной погрешностью.
Электрошкаф сушильный типа СМОЛ-2.5.2,5.2.5/2 по ГОСТ 13474-79 или другого типа, обеспечивающий температуру (Г20±50)°С.
Микроскоп типов МБИ-З, МБС-1, МПД-1, Полам 211, Полам 213, МИН-8.
Микрометр окулярный пинтовой типа МОВ-1 —15* цо ГОСТ 7865-77.
Объект-микрометр типа ОМО по ГОСТ 7513-75.
Сосуды с крышками (для образцов) из газонаплавленного кварцевого стекла размерами, обеспечивающими размещение в них образцов.
Штангенциркуль по ГОСТ 1G6—&0.
Линейка измерительная металлическая по ГОСТ 427-75.
Щипцы с наконечниками в виде отрезков труб из прозрачного кварцевого стекла по ГОСТ 8680-73.
Калий двухромовокнелый по ГОСТ 4220-75.
ГОСТ J21W-76 С. 3
Кислота серная по ГОСТ 4204-77 или по ГОСТ 14262-78.
Кислота фтористоводородная по ГОСТ 10484-78, 20%-ный раствор.
Вода дистиллированная по ГОСТ 6709-72.
Спирт этиловый технический по ГОСТ 17299-78 или спирт этиловый ректификованный технический по ГОСТ 18300-72.
(Измененная редакция, Изм. № 1).
3. ПОДГОТОВКА К ИСПЫТАНИЮ
3.1. Доводят температуру печи до заданной.
3 2. Выдерживают образцы в течение’20 мин в .хромовой смеси (насыщенном растворе двухромовокислого калия а серной кисло-ie), затем промывают дистиллированной водой.
Допускается промывать образцы последовательно в проточной соде и в этиловом спирте.
3.1. 3.2. (Измененная редакция, Изм. № 1).
3.3. Проверяют внутреннюю поверхность сосудов и крышек на отсутствие следов кристаллизации внешним осмотром без применения увеличительных приборов при ненаправленном освещении на темном фоне.
3.4. Для первого испытания и при обнаружении на внутренней поверхности сосудов и крышек следов кристаллизации (после последующих испытаний) их выдерживают в течение 2 ч в 20%-ном растворе фтористоводородной кислоты, затем промывают дистиллированной водой.
3.5. Подготовленные образцы помещают щипцами по одному в сосуд и закрывают сосуды крышками.
3.6. Сушат сосуды с образцами в сушильном шкафу при температуре от 100 до 120СС в течение 60 мин.
3.5, 3.6. (Измененная редакция, Изм. 1).
3.7. (Исключен, Изм. № 1).
• 4. ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЯ
4.1. В печь, подготовленную в соответствии с п. 3.1, помещают сосуды с образцами и выдерживают при заданной температуре и времени, после чего их вынимают из печи и охлаждают на воздухе.
4.2. Образцы проверяют на наличие следов кристаллизации того или иного вида визуально, без применения увеличительных приборов. на темном фоне или с применением микроскопа. Требование о применении увеличительных приборов указывается в нормативно-технической документации на продукцию.
Результат испытания считают неудовлетворительным при обнаружении следов кристаллизации.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
С. 4 ГОСТ 2229Ф-7»
4.3. При нормировании толщины слоя кристаллизации в нормативно-технической документации на продукцию его толщину определяют под микроскопом в следующей последовательности: готовят микроскоп для работы в отраженном свете и определяют цену деления окулярного микрометра с помощью объект-микрометра для соответствующего увеличения объектива;
от образцов откалывают куски для рассмотрения поверхности на границе скола;
поверхность скола располагают нормально к оптической оси микроскопа;
осматривают слой кристаллизации по периметру скола образцов;
проводят не менее 10 измерений толщины слоя кристаллизации в нескольких точках по периметру скола;
за результат испытания толщины слоя кристаллизации принимают среднее арифметическое показателен 10 измерений, отличающихся от среднего не более чем на 10%.
4.2, 4.3. (Измененная редакция, Изм. № 1).
4.4—4.6. (Исключены, Изм. .’й 1).
Редактор Т. П. Шашина Технический редактор М. М. Герасименко Коррслтор Л. В. Сницарчук
Сапно в ичГ> 01. II £8 Поди в ям. ui.wb с.г» уел. п. л. 0,5 ус л кр Ч1Т1 и,И уч.-шд я.
Тира* Э>М Цена 3 сон.
Огдена «Дна* Помета» Мхпвтмоггоо ггандярто*. 123Я(0, Мосяпя, ГСП, Нооонресясиекнй пор. д. 3 Внльнккч-нпч ипография Илдатслкс-тва стандарта, ул. Дяряус ж Гир«яо, a). Jtr..
|
Цен« 3 квп. |
||||||||||
|
||||||||||
ОСНОВНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ
|
Длина |
метр |
П1 |
м |
|
Масса |
килограмм |
кг |
|
|
Время |
секунда |
S |
с |
|
Сипа электрического тока |
ампер |
А |
А |
|
Термодинамическоя температура |
кельвин |
К |
К |
|
Количество вещества |
моль |
mol |
моль |
|
Сила света |
каидела |
cd |
кд |
|
ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ЕД |
ИНИЦЫ СИ |
||
|
Плоский угол |
радиан |
rad |
рад |
|
Телесный угол |
стерадиан |
SJ— |
Ср |
ПРОИЗВОДНЫЕ ЕДИНИЦЫ СИ, ИМЕЮЩИЕ СПЕЦИАЛЬНЫЕ НАИМЕНОВАНИЯ
|
Вмя*ин« |
N АО- |
|||
|
м> |
МСПМТН* |
«»««• |
г*с»и«л«пькьм • дпи-чи СИ |
|
|
Частота |
герц |
Нг |
Гц |
С“* |
|
Сила |
ньютон |
N |
H |
М-КГС-* |
|
Давление |
паскаль |
Ра |
Па |
М-‘- КГ С“* |
|
Энергия |
джоуль |
J |
Д* |
М*ВГС-* |
|
Мощность |
ватт |
W |
Вт |
м’-кг-с»‘* |
|
Количество электричества |
купон |
С |
Кп |
С’А |
|
Электрическое напряжение |
вольт |
V |
В |
м*кг-с»л • А-1 |
|
Электрическая емкость |
фарад |
F |
Ф |
M^Kfw’-c4A2 |
|
Электрическое сопротивление |
ом |
a |
Ом |
м’-кг-с-* • А»* |
|
Электрическая проводимость |
сименс |
S |
См |
M-fer-‘-e1 А» |
|
Поток магнитной индукции |
вебер |
Wb |
Вб |
м7 • кг- с-’А-1 |
|
Магнитная индукция |
тесла |
Т |
Тп |
«г е-» А-‘ |
|
Индуктивность |
генри |
II |
Ги |
М*-КГС“* а-* |
|
Световой поток |
люмен |
111! |
им |
кд ср |
|
Освещонкость |
люкс |
1х |
ПК |
М -* ■ кд ср |
|
Активность радионуклида |
.беккерепь |
Bq |
Бк |
с-‘ |
|
Поглощение»! дога иони>ирую- |
юэй |
Оу |
Гр |
М* . С’1 |
|
щего изучения Экоиоолемтная доэа излучения |
зивеот |
Sv |
Зв |
м».с-* |
